Software für optische 3D-Sensorsysteme

ZEISS colin3D

Highlights

  • Perfekt abgestimmt auf optische 3-D-Sensorsysteme der ZEISS Optotechnik
  • Schnelle Dreiecksnetzgenerierung
  • Flächenvergleich mit Protokollfunktion
  • Intuitive Netzbearbeitung
  • Dokumentation der Kalibrierung
  • Überwachung der Systemgenauigkeit
  • Automatisch hochwertige Messdaten durch intelligente Qualitätskriterien

Innovative Funktionalität

Die Softwareplattform ZEISS colin3D ist ideal auf COMET, COMET Photogrammetrie und T-SCAN Sensorsysteme von ZEISS abgestimmt. Das Programm erkennt selbständig die ideale Strategie, um Einzelaufnahmen zusammenzufügen (Matching) und führt den Anwender über eine neu gestaltete, projektorien­tierte Benutzeroberfläche zu einem idealen Ergebnis. Dank der CAD-Inte­gration erhält der Bediener jederzeit ein Feedback über die noch zu erfassende Bauteiloberfläche.

Maximale Performance

Basierend auf einer langjährigen Programmiererfahrung mit 64-Bit Betriebssystemen und der entsprechenden Hardware wie Grafikkarten und Mehrprozessorsysteme erreichen die neuen Algorithmen von ZEISS colin3D maxi­male Performance und Datenqualität.

Optimale Anwenderunterstützung

Zur schnellen und effizienten Positionierung des T-SCAN Systems von ZEISS sind Messfeld und Scanner in ZEISS colin3D optional einblendbar und erleichtern so das Festlegen der idealen Trackerposition. Messprogramme für Anwendungen mit dem Drehtisch COMETrotary oder COMETdual rotary lassen sich einfach erstellen und ausführen. Alle Einzelmessungen einer Messsequenz werden dabei qualitativ kontrolliert und gegebenenfalls automatisch wiederholt.

Schnelle Dreiecksnetzberechnung durch hochwertige Datenreduktion
Schnelle Dreiecksnetzberechnung durch hochwertige Datenreduktion
Einfacher Fehlfarbenvergleich
Einfacher Fehlfarbenvergleich

Funktionen zur Datenanalyse

Zur Kontrolle der Bauteile können die Scandaten mittels einfacher Best-Fit-Ausrichtung auf die Oberfläche eines CAD-Modells abgeglichen werden. ZEISS colin3D beinhaltet eine einfache Fehlfarbendarstellung mit Farbverlauf und festen Werten. Der Anwender kann dabei die Flyer zur genaueren Analyse von Abweichungen individuell auf die Oberfläche setzen. Protokolle zur Dokumentation der Messergebnisse können einfach und schnell generiert und verwaltet werden.