CGS Gerät
Spektrometer-Module

ZEISS CGS Serie Kompaktes Gitterspektrometer

Das leistungsstarke, kompakte CGS UV-NIR deckt den Spektralbereich von 190 nm bis 1100 nm ab. Durch seine geringe Größe kann es direkt at-line, in-line oder on-line in Prozesse integriert werden. Verschiedene Detektoroptionen (CCD, PDA oder CMOS) erlauben einen vielfältigen Einsatz.

  • Hohe Auflösung
  • Kleine Baugröße
  • Minimiertes Falschlicht
  • Langzeitkalibriert
  • Schnelles Auslesen
CYGUS® CMOS Gerät
CYGUS® CMOS Gerät

CYGUS® Die neueste Generation von CMOS-Spektrometern von ZEISS

CYGUS® ist die neue, leistungsstarke CMOS-Spektrometer-Serie von ZEISS, die den Spektralbereich von 190 - 1100 nm abdeckt. Ihr Vorteil: die große Vielseitigkeit an CMOS Detektoroptionen mit Konfigurationen für hervorragende Auflösung, hohe Empfindlichkeit und schnelles Auslesen.

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CGS Spektrometer-Design

Eigenschaften

ZEISS CGS Spektrometer verfügen über einen SMA-Anschluss mit kundenspezifischem Eintrittsspalt und hoher NA für maximalen Lichtdurchsatz. Das aberrationskorrigierte holographische Gitter ermöglicht eine Auflösung von < 2 nm im gesamten Spektralbereich von 190 nm bis 1100 nm. Es stehen drei Detektoroptionen zur Verfügung: ein hochempfindlicher, schnell auslesbarer CCD-Sensor, ein PDA-Sensor für das beste Signal-Rausch-Verhältnis oder die preiswerten CMOS-Versionen für schnelles Auslesen und gute Empfindlichkeit.

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CGS Kundenspezifische Optionen

Ihr Partner für OEM-Anwendungen

  • Verschiedene Spaltgrößen (10...50 μm) verfügbar
  • ZEISS-Gitter mit verschiedenen optimierten Wellenlängen (230/400/750 nm) für optimierte Beugungseffizienz
  • CCD-, PDA- oder CMOS-Detektoroptionen
  • Betriebselektronik mit USB 2.0, 3.0/Ethernet
  • ZEISS Aspect Software oder SDK
  • Hohe Skalierbarkeit für Serienproduktion
Blaue LED-Streifen

CGS Anwendungen

Geeignet für Emissions-, Absorptions- und Reflexionsmessungen

  • LED- und Display-Prozess- & Qualitätskontrolle
  • Halbleiter-Prozesskontrolle, z.B. optische Emissionsspektroskopie, Dünnschicht-& kritische Dimensionsmessung
  • Kolorimetrie
  • Hochdruckflüssigkeitschromatographie (HPLC)
  • Umweltsensoren
  • Biophotonik und Pharma

Spezifikationen

CGS CCD UV-NIR Schnelle Datenerfassung & höchste Empfindlichkeit
CGS PDA UV-NIR Höchstes SNR
CGS CMOS UV-NIR Schnelle Erfassung, gutes SRV & kostengünstig
CGS CMOS UV-NIR Schnelle Datenerfassung, hohe UV-Empfindlichkeit & kostengünstig
CGS CMOS UV-NIR Schnelle Datenerfassung, hohe UV-Empfindlichkeit & kostengünstig

Allgemeines

Spektralbereich

190 - 1015 nm

190 - 935 nm

190 - 1100 nm

Auflösung (FWHM)

2,2 nm (UV-VIS) / 2,5 nm (NIR)

2 nm  

1,1 ... 2,5 nm (abhängig von Spaltweite und Detektortyp)

Streulicht

< 0,1 % (@240 nm, NaI 10 g/l)

< 0,1 % (@240 nm, NaI 10 g/l)

Temperaturdrift

< 0,02 nm/K

< 0,02 nm/K

Optischer Eingang

SMA, Eintrittsspalt 43 μm (auf Anfrage variabel)

SMA, Eintrittsspalt 37 μm (auf Anfrage variabel)

SMA, Eintrittsspalt 13 μm oder 43 μm (auf Anfrage variabel)

Numerische Apertur

0,22

0,22

Gitter

538 l/mm, geblazed für 230 nm

431 l/mm, geblazed für 230 nm (400/750 nm auf Anfrage)

Detektor

Detektortyp

Hamamatsu BT-CCD S11156 (2048 px)

Hamamatsu NMOS S3903 (1024 px)

Hamamatsu CMOS S12198 (1024 px)

Hamamatsu CMOS S11639 (2048 px)

Hamamatsu CMOS S13496 (4096 px)

Pixelgröße

14 x 1000 μm

25 x 500 μm

25 x 500 μm

14 x 200 μm

7 x 200 μm

Signal/Rauschen

500

5000

1200

300

300

Elektronik

Digitalisierung

16-bit ADC

16-bit ADC

Integrationszeit

> 0,03 ms

> 0,5 ms

> 0,1 ms

> 0,2 ms

> 0,4 ms

Schnittstelle

USB 2.0, 3.0 / Ethernet

USB 2.0, 3.0

Umweltanforderungen / Sonstiges

Betriebstemperatur

0 … 60 °C (nicht kondensierend)

0 … 60 °C (nicht kondensierend)

Abmessungen L x W x H

78 x 30 x 75 mm3

80 x 30 x 75 mm3

Downloads

ZEISS CGS Spektrometer-Serie

  • ZEISS CGS Series

    Compact Grating Spectrometer

    Seiten: 6
    Dateigröße: 322 KB
  • ZEISS CYGUS

    The latest evolution of CMOS spectrometers from ZEISS

    Seiten: 3
    Dateigröße: 1 MB
  • ZEISS OEM Spectrometers for Semiconductor Process Control

    Semiconductor Process Control

    Seiten: 4
    Dateigröße: 395 KB
  • ZEISS Spektrometermodule

    Kompendium Produkte, elektronische Komponenten und Softwarelösungen

    Seiten: 27
    Dateigröße: 2 MB

Betriebselektronik & Software für ZEISS Spektrometer

  • Betriebselektronik für Spektrometer von ZEISS

    ZEISS bietet je nach Detektortyp (CCD, CMOS, NMOS-Photodiodenarrays) eine maßgeschneiderte Betriebselektronik für unsere CGS Spektrometer-Module. Dazu gehören der Vorverstärker, die Frontend-Elektronik sowie eine USB/Ethernet Interface-Elektronik. Darüber hinaus sind verschiedene Software-Tools im Angebot von ZEISS: ASPECT PLUS Erfassungs- und Analysesoftware oder Software Development Kits (SDKs) für die perfekte Integration in industrielle Umgebungen.

  • Vorverstärkerelektronik

    Der Vorverstärker und die Frontend-Elektronik sind auf das Spektrometer-Modul abgestimmt. Die Vorverstärkerelektronik verstärkt die niedrigen analogen Ausgangssignale des Detektorarrays und minimiert mögliche analoge Signalstörungen.

  • Frontend-Elektronik

    Die Frontend-Elektronik fungiert als Adapter zwischen dem Vorverstärker und der Interface-Elektronik eines Spektrometer-Systems. Sie regelt die Signalvorverarbeitung des verstärkten analogen Videosignals und führt die AD-Wandlung durch. Die digitalisierten Intensitätswerte werden als byte-sequentieller Datenstrom für die Interface-Elektronik bereitgestellt. Hohe Dynamik und Signalstabilität in den Konfigurationen werden durch quarzgenaues Timing und integrierte Filterung der Versorgungsspannungen erreicht.

  • Hochgeschwindigkeits-Interface-Elektronik

    ZEISS bietet high-speed Datenerfassungs-Controller mit PCI-, USB 2.0/3.0- und Ethernet-Schnittstellen für die PC-Kommunikation an. Das Interface-Board dient dabei als Bindeglied zwischen der Frontend-Elektronik und dem PC. Die 10/100 Base-T Ethernet-Schnittstelle wird für die Kommunikation über große Entfernungen empfohlen. Sie eignet sich perfekt für verteilte Systeme und dezentrale Überwachung.

  • ZEISS Software-Lösungen

    ZEISS bietet verschiedene Software-Tools für die spektroskopische Analyse und Automatisierung an. Eine komfortable Lösung: das gebrauchsfertige Softwarepaket ASPECT PLUS. Es läuft unter MS Windows und ermöglicht die einfache Erfassung und Analyse von Spektraldaten. Darüber hinaus bieten wir Software Development Kits (SDKs) an, die aus Programmierdatenbanken bestehen und maximale Flexibilität für benutzerspezifische Anwendungen ermöglichen.

    Die Aspect PLUS Software zur Aufnahme und Analyse von Spektren mit übersichtlicher grafischer Oberfläche läuft auf den neuesten Windows-Versionen und steuert ZEISS Spektrometer. Zu den implementierten Funktionen gehören Spektrendarstellung, Datenverarbeitungsroutinen, Kinetik und Berechnung von Konzentrationen oder Farb- und Schichtdickenbewertungsmodule.

    OSIS SDK ist ein Software Development Kit zur Unterstützung der Entwicklung von Softwareanwendungen für ZEISS Spektrometer. Es gibt mehrere Möglichkeiten, eine Anwendung von Grund auf mithilfe einer der bereitgestellten Templates zu erstellen. Sie können auch das OSIS SDK mithilfe von NuGet-Paketen zu Ihren bestehenden Projekten hinzuzufügen. Das 32/64-Bit-SDK und das zugrunde liegende OSIS-Framework basieren auf dem .NET-Standard 2.0 und sind nicht auf eine bestimmte Plattform oder Architektur beschränkt.

Kontakt & Service

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