ZEISS ABIS III

Automatisierte Oberflächeninspektion
für Smart Factories

Prozessüberwachung in Taktzeit

Der neu entwickelte Sensor ZEISS ABIS III vereint höchste Inspektionsgeschwindigkeit mit zuverlässiger Detektion aller relevanten Oberflächendefekte wie Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Risse und nun auch Kratzer und Druckstellen. Das System prüft bewegte und stehende Bauteile reproduzierbar und mit höchster Präzision direkt in der Produktionslinie – in Taktzeit. Neben der Inline-Anwendung ist auch der Atline-Einsatz in der Produktionsumgebung möglich.

Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erkennung selbst kleinster Defekte. Ein digitaler Prüfbericht wird bereits nach wenigen Sekunden bereitgestellt. So stehen Funktionen wie ein Q-Stop und digitale Qualitätsinformationen wie Defektvisualisierungen für eine gezielte Nacharbeit stets zur Verfügung. Diese bilden die Basis für geschlossene Regelkreise und die Voraussetzung zur Umsetzung der proaktiven Prozesssteuerung (Smart Process Control). In Deutschland entworfen und entwickelt, um höchsten Qualitätsanforderungen gerecht zu werden, ist ZEISS ABIS III die ideale Lösung für moderne Presswerke und den zukunftsorientierten Karosseriebau.

Durchgängige Analyse der Oberflächenqualität über die komplette Prozesskette

Oberflächeninspektion

Die konventionelle Oberflächenprüfung (z. B. das Bearbeiten der Oberfläche mit Abziehsteinen) ist sehr zeitaufwendig und vom jeweiligen Anwender abhängig. Diese subjektive Inspektion kann zu unterschiedlichen Meinungen zwischen Kunde und Lieferant und damit zu Beanstandungen, Reklamationen oder kostenintensiven Sortier- bzw. Nacharbeiten führen. Durch den Einsatz des Sensors ZEISS ABIS III und die schnelle Fehlerdetektionsrate von bis zu 20 Hz entfallen manuelle und subjektive Qualitätssicherungsprozesse. Das ressourcensparende System liefert kontinuierlich und automatisiert die erforderliche Datenbasis für zielgerichtete Nacharbeiten, schnelle Ursachenanalysen und effiziente Prozessoptimierungen.

Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types
Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types

Multi-Color-Light-Technologie zur Detektion kleinster Fehler

Das kompromisslose Oberflächeninspektionssystem ZEISS ABIS III kombiniert Highspeed mit zuverlässiger Fehlererkennung nach dem 100-%-Prinzip: 100 % Prüfung aller produzierten Bauteile, der gesamten Oberfläche sowie aller relevanten Fehlerarten. Ein technisches Highlight dabei ist das neu entwickelte MCL-Modul. Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erfassung von kleinsten Fehlerarten.

Fehlervisualisierung und digitale Prüfberichte in ZEISS ABIS V20

In Kombination mit der Software ZEISS ABIS V20 werden Oberflächenmerkmale sekundenschnell erkannt und nach den Vorgaben individueller Konzernstandards bewertet. Die Software visualisiert Fehlerarten wie Beulen, Dellen, Welligkeiten, Einschnürungen oder Nachlaufkanten in Echtzeit und speichert die Prüfergebnisse digital in einer Datenbank. Der Qualitätsnachweis gegenüber den Kunden ist so jederzeit verfügbar und abrufbar. Durch die Auswertung von erkannten Fehlerschwerpunkten ist die schnelle Ursachenanalyse und darauf basierend die Definition zielführender Abstellmaßnahmen problemlos möglich.

Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types

Offline-Erstellung von Prüfprogrammen in der virtuellen Roboterzelle

Mit dem ZEISS ABIS Planner werden in nur vier Schritten neue Inspektionsprogramme erstellt und hinzugefügt, ohne laufende Produktionsprozesse zu unterbrechen. Die Erstellung der virtuellen Roboterzelle ist als maßstabsgetreues 3D-Modell durch Import der CAD-Daten oder durch die Verwendung von Standard-Geometrien möglich.

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ZEISS ABIS III Digitale Broschüre DE

ZEISS ABIS III Digitale Broschüre DE
Seiten: 8
Dateigröße: 673 kB

ZEISS ABIS Planner Broschüre digital DE

ZEISS ABIS Planner Broschüre digital DE
Seiten: 7
Dateigröße: 1028 kB