Die Oberflächenrauheit ist eine Gestaltabweichung, die durch spanende Bearbeitung, chemische oder physikalische Einwirkungen verursacht wird. Lernen Sie in unserem Seminar mehr über Rauheitsprofile, Oberflächenmessgrößen und Oberflächenbeschaffenheit. Besuchen Sie uns dazu vom 26. bis 27. Februar 2019 in unserem ZEISS Metrology München.

Übersicht
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Inhalte des Seminars
  • Einführung in die Thematik Rauheit
  • Einteilung der Oberflächengestalt (Form und Lage), Welligkeit, Rauheit
  • Definition von Rauheitskenngrößen, deren Funktionen und Normen
  • Zeichnungsangaben, Art der Fertigung, Oberflächenstruktur
  • Art und Angabe von Filtern (cut-off), Einzelmessstrecken
  • Bewertung der Toleranzgrenzen
  • Beispiele aus der Praxis Rauheit und Maßtoleranz
  • Rauheitsmessung mit Tastschnittgeräten (Aufbau/Taster)
  • Filter und cut-off: Aufbau, Wirkungsweise, richtige Wahl
  • Kalibrieren, prüfen und justieren von Tastschnittgeräten
Ziel des Seminars

Rauheitskenngrößen richtig interpretieren, Zeichnungsangaben entsprechend der Funktion klar formulieren und Umsetzung der Erkenntnisse in messtechnische Lösungen.

Zielgruppe

Entscheider, Qualitätsverantwortliche, Konstrukteure und Messtechniker

Leistungsumfang
  • 2-Tage-Seminar jeweils von 09:00 bis 16:00 Uhr
  • Umfangreiche Seminarunterlagen und Zertifikat
  • Erfrischungsgetränke und Mittagsverpflegung
Termine und Veranstaltungsort

Dienstag, 26.02. bis Mittwoch, 27.02.2019
ZEISS Metrology Center München

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Seminarkosten

990,- € pro Person zzgl. MwSt.

Wir freuen uns über Ihre Teilnahme. Da die Teilnehmerzahl begrenzt ist, empfehlen wir Ihnen sich frühzeitig anzumelden. Dazu füllen Sie bitte das Anmeldeformular aus und klicken Sie auf "Senden" bzw. senden Sie es an die im Formular genannte E-Mail-Adresse.