ZEISS Lösungen für Oberflächen und Rauheit

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Qualitätssicherung für langfristige Produktivität

Lösungen für Oberflächenanalysen- und Rauheitsmessungen von ZEISS

ZEISS ist der Lösungsanbieter für Oberflächen- und Rauheitsmessungen aus einer Hand, die die Qualitätssicherung und Produktionsüberwachung unterstützen. Das Portfolio liefert detaillierte und aussagekräftige Daten für sichere Entscheidungen in allen Anwendungen und gewährleistet dynamische und zuverlässige Ergebnisse. Diese taktilen und optischen Lösungen können zur Prüfung, Charakterisierung und Messung komplexer Geometrien, Topographien und Rauheitsgrade von fertigen und funktionalen Oberflächen eingesetzt werden.

Entdecken Sie, wie ZEISS Ihnen hilft, die wichtigsten Herausforderungen bei der Inspektion, Charakterisierung und Messung Ihrer Teile zu meistern.

Flexible Lösungen zum Prüfen, Charakterisieren und Messen komplexer Teile

Taktile Lösungen

Bei der Qualitätssicherung und Oberflächenanalyse von Bauteilen müssen die Bediener hochpräzise Messungen durchführen, um sicherzustellen, dass jedes Teil alle Toleranzen für Oberflächenprofil, Kontur und Rauheit einhält.

Rauheitsmessung in hoher Präzision

mit KMGs an Antriebsstrangkomponenten

Ihre Vorteile mit ZEISS
ZEISS ROTOS ist mit 3 Drehachsen ausgestattet und kann die gesamte Oberflächenrauheit in jeder Richtung reproduzierbar messen - für optimale Zugänglichkeit und erhöhte Flexibilität. Zusätzlich unterstützt es die automatisierte Oberflächeninspektion aller geometrischen Merkmale und sichert so die Produktqualität und fördert einen hohen Durchsatz. 

  • Alle Prüfmerkmale und Rauheitstoleranzen werden in einem einzigen automatisierten Durchlauf normgerecht geprüft
  • Kein Umspannen, minimale Rüstzeiten, flexibler modularer Aufbau
  • Rauheitsmessung integriert in KMG-Messablauf
Auswertung mit ZEISS CALYPSO
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Auswertung mit ZEISS CALYPSO
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Präzise Rauheitsmessung mit KMGs

an Blisks und gekrümmten Werkstückoberflächen

Ihre Vorteile mit ZEISS
ZEISS ROTOS kann die Oberflächenrauheit an verschiedenen Stellen der Schaufel in einem vollautomatischen Prozess reproduzierbar messen. Es kann daher mit dem Rauheitstaster RS-10 (RS-4) kombiniert werden, der aufgrund seiner Zugänglichkeit auf konkaven Oberflächen und angesichts der engen Spalte zwischen den Schaufeln ideal für Blisk-Messungen ist.

  • Kostenreduzierung durch intensive Rauheitsmessung jedes einzelnen Blisks
  • Große Anzahl von Messungen und Toleranzen, die in ZEISS CALYPSO und ZEISS PiWeb einfach verarbeitet werden können
Auswertung mit ZEISS CALYPSO
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Oberflächenanalyse von Hüftschalen

Hochwertige Oberfläche verlangt nach hoher Genauigkeit

Ihre Vorteile mit SURFCOM
SURFCOM bietet die für die Inspektion von Hüftschalen unerlässliche Einhaltung von Toleranzen, Stabilität der Messung und parameterbasierte Analyse. Sein Sensor führt eine kufenlose Abtastung durch, um hochauflösende digitalisierte Scans zu erhalten.

  • Linearmotor-Antriebstechnologie für geringstmögliches Rauschen auf dem X-Achsen-Tracing-Treiber
  • Filter zur Beseitigung von Krümmungen; Lc- und Gauß-Rauheitsfilter verfügbar
  • SURFCOM-Ergebnisse stehen für eine gründliche Analyse in der Messsoftware ACCTee PRO bereit
  • Der modulare Aufbau ermöglicht die Auswahl eines für die jeweilige Anwendung geeigneten Messwertaufnehmers.
  • Ein hybrider Messwertaufnehmer misst sowohl die Kontur (großer Hub) als auch die Oberflächenrauhigkeit (hohe Auflösung).
Auswertung mit ACCTee PRO
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Flexible Lösungen zum Prüfen, Charakterisieren und Messen komplexer Teile

Optische Lösungen

Die optische Oberflächenmessung erfasst berührungslos die Feinstruktur von Oberflächen und empfindlichen Materialien. Es können 2D-Kennwerte und 3D-Oberflächenparameter bestimmt werden, die die Eigenschaften der Mikrostruktur erfassen.

Optische Mikroskop-Lösungen für die Industrie

Das konfokale Laserscanning-Mikroskop LSM 900 von ZEISS für Materialien bietet leistungsstarke Automatisierungsfunktionen. Es ist ideal für die topografische Oberflächencharakterisierung, Flächen- und Profilrauhigkeit und Dünnschichtmessungen.

Das konfokale Weitfeldmikroskop ZEISS Smartproof 5 bietet hohen Durchsatz und Plug-and-Play-Betrieb. Es eignet sich für die Charakterisierung von Oberflächenstrukturen und -topografien sowie für Flächen- und Profilrauhigkeitsmessungen.

Oberflächenanalyse von

laserpolierten, additiv gefertigten 316L-Edelstahls

Ihre Vorteile mit ZEISS
Das integrierte Weitfeldmikroskop ZEISS Smartproof 5 erfasst schnell die 2,5D-Topografie und quantifiziert Rauheitswerte und verarbeitet alle relevanten Parameter und ermöglicht den direkten Vergleich mehrerer Oberflächen in der Analysesoftware ZEISS Confomap.

  • ZEISS Smartproof 5 charakterisiert die Oberflächenqualität des Stahls schnell und zuverlässig und ermöglicht die Quantifizierung der erzielten Oberflächenglättung, die Bewertung der Prozessqualität des Laserpolierens und die Eingrenzung eines geeigneten Prozessfensters für die Oberflächenbehandlung von additiv gefertigtem 316L-Edelstahl.
  • Ermöglicht Oberflächenanalysen mit hohem Durchsatz und bietet ein ideales Gleichgewicht zwischen der erforderlichen hohen Bildauflösung, Erfassungsgeschwindigkeit und wiederholbaren Ergebnissen.
Auswertung mit ZEISS Conomap
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ZEISS unterstützt Oerlikon die Industrialisierung der additiven Fertigung voranzutreiben

Charakterisierung der Oberfläche

von Zahnimplantaten

Ihre Vorteile mit ZEISS
Das integrierte Weitfeldmikroskop ZEISS Smartproof 5 ist perfekt für die Analyse empfindlicher Oberflächen geeignet, da es während der Messung keine Spuren oder Schäden verursacht.

  • Es basiert auf dem konfokalen Prinzip, minimiert die Zeit bis zum Ergebnis und bietet eine perfekte Balance zwischen hoher Auflösung und hoher Geschwindigkeit.
  • Ausgestattet mit speziellen Objektivlinsen mit einer sehr hohen numerischen Apertur, die besonders bei niedrigen Vergrößerungen von Vorteil ist. Dies führt zu einer überragenden Bildqualität mit weniger Rauschen und weniger Artefakten.
  • ZEISS Smartproof 5 mit der ZEISS ZEN Core Software ist GxP-konform und eignet sich daher optimal für die Messung von Teilen im medizinischen Bereich.
Auswertung mit ZEISS Conomap
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Analyse von PVDF-Partikel auf einer Separatorfolie

und Elektrodenrauheit an einer E-Batterie

Ihre Vorteile mit ZEISS
Das ZEISS LSM 900 für Materialien ermöglicht eine genaue Bewertung der Mikrostruktur von Separatorfolien in der Batterie, und zwar berührungslos, ohne die Oberfläche des Separators zu beeinträchtigen oder die Ergebnisse zu beeinflussen. Die Höhe und Verteilung der Binderpartikel kann über einen großen Bereich mit einem speziellen 10X-Objektiv gemessen werden, das dank seiner hohen numerischen Apertur ein ausgezeichnetes Maß an Oberflächendetails liefert.

Kombinieren Sie das aufrechte Lichtmikroskop ZEISS Axio Imager 2 mit dem LSM 900 Mat, um die gesamte Bandbreite der wesentlichen lichtmikroskopischen Kontrastierungsverfahren für Materialien sowie hochpräzise Topografie zu nutzen - alles in einem einzigen Gerät. Da das Mikroskop nicht gewechselt werden muss, spart dies Zeit beim Einrichten.

Auswertung mit ZEISS Conomap
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