ZEISS Mikroskopie für die Industrie

Vernetzte Mikroskopie

Entscheidungen beschleunigen.

News

Entdecken Sie neue Dimensionen der Mikroskopie

Entdecken Sie das kompakte, moderne Digitalmikroskop ZEISS Smartzoom 100 - die ideale Lösung für die optische Inspektion und Dokumentation. Erleben Sie die nahtlose Integration von ZEISS ZEN core in die Elektronenmikroskopie mit einer einzigen Benutzeroberfläche, die hochauflösende Bilder, ZEISS EDS-Analysen, präzise Messungen und Deep-Learning-gestützte Analysen ermöglicht.

INTUITIVE, EFFIZIENTE UND EINZIGARTIGE ARBEITSABLÄUFE

ZEISS ZEN core für Elektronenmikroskopie

Zoom. Check. Fertig.

ZEISS Smartzoom 100

Zugeschnittene Lösungen für Ihren Fertigungsprozess:

für eine vernetzte Mikroskopie.

ZEISS offers dedicated industrial microscopy solutions for users in different departments:

Forschung und Entwicklung
Material- und Qualitätslabors
Wareneingangsprüfung
Messraum und Fertigung
Alle ZEISS Mikroskopsysteme bieten unbegrenzte Konnektivität über Abteilungsgrenzen uns Standorte hinweg.
ZEISS bietet ein einzigartig umfassendes Portfolio

an Mikroskopie-Technologien für die Industrie:

Licht- und Digitalmikroskope
Elektronenmikroskope
Röntgenmikroskope

Darüber hinaus ermöglicht es die einheitliche ZEN core Software den Anwendern, ihre Mikroskope voll auszunutzen, mit leistungsstarken Funktionen wie automatisierte Workfl ows und hardwareunabhängige Analysen.
Von Bildanalyse zur Produktivität.

Datenverarbeitung ohne Schranken.

Dies ermöglicht einen benutzerunabhängigen Betrieb, Trendanalysen und tiefere Einblicke durch die Kombination von Ergebnissen

über Größendimensionen oder Modalitäten und die gemeinsame Nutzung von Daten. Das Ergebnis: Mehr Produktivität und höhere Sicherheit bei industriellen Mikroskopieanwendungen.

Gut-/schlecht-Bewertung bei visueller Inspektion
Mängel und Fehler sowie ihre Ursachen identifizieren
Rauheit und Topographie charakterisieren
Partikelkontamination nachverfolgen
Abweichungen bei kritischen geometrischen Abmessungen erkennen
Intelligente Datenverarbeitung

für eine vernetzte Mikroskopie.

Die einheitliche Benutzeroberfläche von ZEN core ermöglicht es Anwendern, Mikroskope auf die stets gleiche Weise zu bedienen, von Stereomikroskopen bis hin zu vollautomatisierten High-End-Anwendungen. Die leistungsstarke Software ermöglicht die Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie in multimodalen Arbeitsabläufen und bietet Konnektivität zwischen Systemen, Abteilungen und Standorten.

ZEN core beherrscht mehr als nur die Bildgebung in der Mikroskopie. Es ist die umfassendste Suite von Bildgebungs-, Segmentierungs-, Analyse- und Datenverbindungswerkzeugen für die multimodale Mikroskopie in vernetzten Qualitätslaboren.

ZEISS ZEN core

Mikroskopie für die Industrie: Applikationen und Portfolio

LICHT- UND DIGITALMIKROSKOPE

Finden Sie hier das Porftolio der Licht- und Digitalmirkoskopie für die Industrie

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ELEKTRONENMIKROSKOPE

Finden Sie hier das Porftolio der Elektronenmikroskpie für die Industrie

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RÖNTGENMIKROSKOPE

Finden Sie hier das Porftolio der Röntgenmikroskopie für die Industrie

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ZEISS Lösungen für die Technische Sauberkeit

Ursachen identifizieren. Schneller richtige Entscheidungen treffen.

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ZEISS Lösungen für die Materialographie.

Materialien werden komplexer. Analysieren wird einfacher.

Mehr erfahren

ZEISS Lösungen für Oberfläche und Rauheit.

Oberflächen in der Tiefe verstehen.

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ZEISS Löungen für die optische Inspektion.

Optische Inspektion und Dokumentation

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Optisches Messen mit der ZEISS O-INSPECT duo

Große und kleine Teile automatisch prüfen? Funktioniert.

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Mikroskopie-Lösungen für die Industrie

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Wie man Beschichtungen zehnmal schneller mit einem Lichtmikroskop prüft? Der Medizintechnikkonzern Smith+Nephew nutzt seit Sommer 2022 ZEISS Axio Imager.Z2m. Und ist gleich aus mehreren Gründen von der KI-gestützten Lösung begeistert.

KI beschleunigt Messprozess

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Zwei Drittel aller E-Antriebsstränge entstehen mit Fertigungstechnik des süddeutschen Familienunternehmens GROB. Seine rigorosen Qualitätsansprüche stellt GROB mit Qualitätslösungen von ZEISS sicher.

Qualitätssicherung beim Vorreiter für E-Mobilität

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Erfahren Sie in unserer Success Story, warum ein österreichischer Hersteller von Großmotoren schon vor zehn Jahren Standards für die Technische Sauberkeit einführte. Und warum das Rasterelektronenmikroskop ZEISS EVO dabei eine Schlüsselrolle spielt.

Die Nadel im Heuhaufen finden

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Die SPC Werkstofflabor GmbH unterstützt die Stahlbranche dabei, die Qualität auch unter den derzeit schwierigen Umständen sicherzustellen. Dabei setzt das akkreditierte Prüflabor auf eine Kombination von Licht- und Rasterelektronen-Mikroskopie von ZEISS.

Kombinierte ZEISS Mikroskopie für Qualitätssicherung in der Stahlbranche
Die Zukunft ist bei ZEISS schon heute

Schnelle 3D Schadensanalyse. Korrelative Workflow-Lösung von ZEISS

Skalierungsübergreifende Materialuntersuchung

Lokalisierung und Navigation am SEM leicht gemacht: ZEISS ZEN Connect

Reduzieren Sie Ihre Arbeitszeit am Gerät. Mit der ZEISS ZEN core Software

Vernetzte Mikroskopie für die Industrie
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Erfahren sie mehr über das einzigartige ZEISS Mikroskopie Portfolio. Mikroskopie kann viel mehr als nur kleine Dinge sichtbar machen. Lernen Sie die weite Welt der Mikroskopie und die verschiedenen Anwendungsgebiete kennen, auch und gerade für die Industrie.

Die Zukunft ist bei ZEISS schon heute

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Sehen Sie sich das Video über unsere korrelative Workflow-Lösung an! Erfahren Sie, wie einfach es ist, Ihre Daten mit ZEISS Solutions technologieübergreifend zu nutzen und wie Sie zuverlässige und effiziente Ergebnisse erzielen.

Schnelle 3D Schadensanalyse. Korrelative Workflow-Lösung von ZEISS

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Wie sehen Ihre makroskopischen Strukturen aus? Wie finden Sie die Bereiche, die Sie interessieren, in einer großen Probe? Wie greifen Sie auf diese "Region of Interests" (ROI) zu? Und wie analysieren Sie diese weiter?

Skalierungsübergreifende Materialuntersuchung

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Organisieren, visualisieren und setzen Sie verschiedene Mikroskopiebilder und -daten derselben Probe in ihren Kontext zueinander, alles an einem Ort. Die Korrelation zwischen Bildern in verschiedenen Maßstäben kann im Arbeitsbereich überlagert und zur einfachen Navigation verwendet werden.

Lokalisierung und Navigation am SEM leicht gemacht: ZEISS ZEN Connect

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ZEISS ZEN core Software - reduzieren Sie Ihre Arbeitszeit am Gerät – die Bildanalyse ist somit unabhängig vom Mikroskop. Erfahren Sie im Video mehr.

Reduzieren Sie Ihre Arbeitszeit am Gerät. Mit der ZEISS ZEN core Software

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Die Software ZEISS ZEN core bietet eine workflow-orientierte Bedienung von ZEISS Mikroskopen, maschinelles Lernen und KI-basierte Bildanalyse für ein breites Anwendungsspektrum sowie nahtlose Konnektivität über das gesamte Mikroskopie-Portfolio hinweg.

Vernetzte Mikroskopie für die Industrie
Intelligenter. Zeitsparender. ZEISS ZEN Intellesis.

Sichere und nachvollziehbare Mikroskopie-Abläufe mit dem ZEISS GxP-Modul

Metallografie und Materialprüfung mit den ZEISS ZEN core Materialmodulen.

Gesicherte Qualität in der Stahlproduktion: ZEISS Non-Metallic Inclusion Analysis (NMI)

ZEISS ZEN Connect: Mikroskopie-Bilder und Analysedaten im Gesamtkontext

ZEISS ZEN Data Storage: Zentrale Datenverwaltung in vernetzten Laborumgebungen
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Durch den Einsatz bewährter maschineller Lernverfahren wie Pixelklassifizierung oder Deep Learning ermöglicht ZEISS ZEN Intellesis auch Nicht-Fachleuten, robuste und reproduzierbare Segmentierungsergebnisse. Laden Sie einfach Ihr Bild, definieren Sie Ihre Klassen, beschriften Sie die Pixel, trainieren Sie Ihr Modell und führen Segmentierung.

Intelligenter. Zeitsparender. ZEISS ZEN Intellesis.

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Mit dem GxP-Modul in ZEN core machen Sie Ihre Workflows entlang einer integrierten Hard- und Software-Lösung nachvollziehbar, um Regulierungs- und Zertifizierungsvorschriften zu entsprechen.

Sichere und nachvollziehbare Mikroskopie-Abläufe mit dem ZEISS GxP-Modul

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Wie können Sie Ihre metallografischen Untersuchungen beschleunigen? Wie gehen Sie mit neuen Materialien um? Wie vermeiden Sie verfälschte Ergebnisse? Wie sichern Sie Produktivität im Labor? Statt nur Funktionen zu erwerben, erhalten Sie mit ZEN core ein echtes Produktivitätspaket und heben Ihre Materialuntersuchungen auf die nächste Stufe

Metallografie und Materialprüfung mit den ZEISS ZEN core Materialmodulen.

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Stahl ist einer der am meisten genutzten Werkstoffe weltweit. Trotz ihrer geringen Größe können nichtmetallische Einschlüsse die mechanischen Eigenschaften sowie das Verarbeitungs- und Korrosionsverhalten des Stahls beeinträchtigen. ZEN Non-Metallic Inclusions ist Ihre Lösung für die schnelle und zuverlässige NMI-Analyse.

Gesicherte Qualität in der Stahlproduktion: ZEISS Non-Metallic Inclusion Analysis (NMI)

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Mit ZEN Connect visualisieren Sie verschiedene Mikroskopie-Aufnahmen und Daten einer Probe – in ihrem Kontext an einem gemeinsamen Ort. Entdecken Sie die Zusammenhänge zwischen Bilddaten verschiedener Maßstäbe. Profitieren Sie zudem von einer integrierten Berichtserstellung über die verbundenen Datensätze.

ZEISS ZEN Connect: Mikroskopie-Bilder und Analysedaten im Gesamtkontext

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ZEN Data Storage ermöglicht die zentrale Verwaltung von Gerätevoreinstellungen, Workflows, Bilddaten und Berichten verschiedener Systeme und Laborstandorte. Trennen Sie die mikroskopische Bilderfassung von nachgelagerten Analyseaufgaben, um die Arbeit im Labor noch effizienter zu gestalten.

ZEISS ZEN Data Storage: Zentrale Datenverwaltung in vernetzten Laborumgebungen

Mikroskopie-Anwendungen für die Qualitätssicherung:

Kundenbeispiele aus der Industrie für die Industrie

Einfacher geht’s nicht.

KI-gestützte ZEISS Lösung prüft Implantat-Beschichtungen automatisiert.

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Vorreiter für E-Mobilität.

E-Antrieb: GROB und ZEISS machen Fertigung effizient und fehlerfrei.

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Unverzichtbar: Technische Sauberkeit

Technische Sauberkeit: Jenbacher analysiert mit ZEISS Lösung chemische Zusammensetzung von Restschmutzpartikeln

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Kombinierte ZEISS Mikroskopie für Werkstoffprüfung

Qualität wird zu einem zentralen Erfolgsfaktor. Die Kombination von Licht- und Rasterelektronenmikroskopie von ZEISS überzeugt.Mehr lesen (Link zur Materialographie)

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Downloads

ZEISS IQS Technical Paper, FIB/SEM, Failure analysis, EN, PDF

5 MB

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ZEISS Industrial Microscopy Series Brochure, DE

6 MB

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ZEN core product information brochure DE PDF

21 MB

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Fachartikel vernetzte Mikroscopie, DE

432 KB

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IMS Technical Paper Automated microscopy solutions DE PDF

1 MB

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ZEISS IQS Kundenstory GROB Mic NEV DE PDF

13 MB

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ZEISS IMS Kunden Story INNIO Group Mik TCA DE PDF

16 MB

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ZEISS IMS Kundenstory SPC Metallographie DE Flyer

17 MB

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